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適用於半導體業IC,砷化鉀高頻通信元件,電晶體,二極體,被動元件….,或是電子產品加溫
壽命實驗,本公司可提供整套系統整合,並有豐富的經驗,歡迎業務洽詢規格討論：
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●適用於小量實驗,被動元件或是半導體 |
●被動元件整套BURN-IN系統實例 |
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●DIODE整套BURN-IN系統實例 |
●四箱一體式LASER DIODE BURN-IN SYSTEM |
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●砷化鉀(GaAs)高頻通信元件BURN-IN |
●電子成品類台車式BURN-IN CHAMBER |